熱門關(guān)鍵詞： 高低溫試驗箱 可程式恒溫恒濕試驗箱 PCT高壓加速老化試驗機(jī) 無風(fēng)烤箱 鹽霧試驗箱
產(chǎn)品特點：
用戶可以查看他們希望查看任何數(shù)據(jù)
通過電腦安全便捷的遠(yuǎn)程訪問
多層級的敏感數(shù)據(jù)保護(hù)
便捷的程序入口、試驗設(shè)置和產(chǎn)品監(jiān)控
試驗數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為Excel格式并通過USB接口進(jìn)行傳輸
HAST測試條件有130℃、85%RH、230KPa大氣壓，96hour測試時間。
HAST試驗箱是利用高溫(通常為130 ℃)、高相對濕度(約85%)、高大氣壓力的條件（達(dá)3 atm）來加速潮氣通過外部保護(hù)材料或芯片引線周圍的密封封裝的試驗設(shè)備，用于評估產(chǎn)品及材料在高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力，加速其失效過程。
該試驗檢查芯片及其他材料長期貯存條件下，高溫和時間對器件的影響。本規(guī)范適用于量產(chǎn)芯片驗證測試階段的HAST測試需求，僅針對非密封封裝（塑料封裝），帶偏置（bHAST）和不帶偏置（uHAST）的測試。
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標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計更安全
內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計防止結(jié)露滴水，符合國家安全容器規(guī)范；
多重保護(hù)功能
三道高溫保護(hù)裝置、濕度用水?dāng)嗨Ｗo(hù)與電熱斷水空焚保護(hù)、機(jī)臺停機(jī)時自動排除飽和蒸氣壓力、氣動機(jī)構(gòu)壓力保護(hù)等
穩(wěn)定性更高
壓力值采實際感應(yīng)偵測，確保溫度、濕度及壓力值準(zhǔn)確度；
濕度自由選擇
濕度自由選擇飽和（100%R.H濕度）與非飽和（75%R.H濕度）自由設(shè)定；
智能化高
支持電腦連接，
利用USB數(shù)據(jù)、
曲線導(dǎo)出保存
GB-T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
IEC 60068-2-66-1994 環(huán)境試驗 第2-66部分:試驗方法 試驗Cx:穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽合加壓蒸汽)
JESD22-A100 循環(huán)溫濕度偏置壽命
JESD22-A101 THB加速式溫濕度及偏壓測試
JESD22-A102 加速水汽抵抗性-無偏置高壓蒸煮
JESD22-A108 溫度，偏置電壓，以及工作壽命（IC壽命試驗）
JESD22-A110 高加速溫濕度應(yīng)力試驗（HAST）
JESD22-A118 加速水汽抵抗性--無偏壓HAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)
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